FE-SEM

전계방사형 주사전자현미경

FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope)

모델명	JSM-6700F
제작사	JEOL
설치장소	동아대학교 공대2호관(S04) 0101호
문의전화	051)200-6376
기기담당자	손광석

원리 및 특징

전계방사형 주사전자현미경은 집속된 전자탐침을 시료에 조사하여 시편으로부터 발생되는 2차 전자, 후방산란전자, 엑스선 등과 같은 다양한 신호를 검출하여 무기재료, 생체시료 등의 조직, 표면입체구조, 형태, 결함 같은 물리적인 상태를 수배에서 수십만배까지 영상으로 관찰을 할 수 있으며, 무기원소의 정량, 정성해석을 동시에 수행할 수 있다.

활용분야

1. 나노분말의 형상 및 종류 분석
2. 금속 및 세라믹의 미세조직 분석
3. 제품의 표면 상태 및 결함 분석
4. 기계, 금속, 의학, 약학, 식품, 벌크, 제지분야 등 응용분야가 다양함.

사용수가

분석항목		교내	교외
이용료	시간	40,000	60,000

<style>

.ex_title {
	width:100%;
	height:auto;
	border-top:2px solid #000;
	border-bottom:1px solid #bcbcbc;
	background-color:#f1f4fb;
	padding:15px 0;
	text-align:center;
	}

.ex_title h2 {
	font-size:1.9em;
	font-weight:700;
	color:#000;
	}
	
.ex_title h3 {
	font-size:1.5em;
	font-weight:500;
	color:#000;
	}
	
.ex_img {
	padding:25px 0;
	margin-bottom:20px;
	text-align:center;
	}

.ex_img img{
	height:500px;
	}

.ex-table1 {
	width:100%;
	font-size:1.3em;
	border-collapse:collapse;
	border-top:2px solid black;
	border-bottom:2px solid black;
	margin-bottom:20px;
	}

.ex-table1 td {
	padding:10px 15px;
	border:1px solid #dddddd;
	}
	
.ex-table1 td:first-child {
	width:25%;
	font-weight:700;
	text-align:center;
	background-color:#f1f4fb;
	}
	
.ex_div {
	padding:15px;
	}
	
.ex_div h3{
	font-size:1.8em;
	font-weight:600;
	color:#000;
	margin-bottom:15px;
	}
	
.ex_div p{
	font-size:1.2em;
	line-height:1.5;
	}
	
.ex_bar {
	display:inline-block;
	margin: 8px 0;
	width:50px;
	height:2px;
	background-color:#000;
	}
	
.ex-table2 {
	width:100%;
	border-collapse:collapse;
	border-top:2px solid black;
	border-bottom:2px solid black;
	margin-bottom:20px;
	text-align:center;
	}

.ex-table2 td {
	padding:10px 15px;
	border:1px solid #dddddd;
	}
	
.ex-table2 thead, th {
	font-weight:700;
	background-color:#f1f4fb;
	}

</style>

<div class="ex_title">
	<h2>전계방사형 주사전자현미경
 
	</h2>
    <h3>FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope)
	</h3>
</div>

<div>
	<table class="ex-table1">
    	<tr>
        	<td>모델명</td>
        	<td>JSM-6700F</td>
        </tr>
        <tr>
        	<td>제작사</td>
        	<td>JEOL</td>
        </tr>
        <tr>
        	<td>설치장소</td>
        	<td>동아대학교 공대2호관(S04) 0101호</td>
        </tr>
        <tr>
        	<td>문의전화</td>
        	<td>051)200-6376</td>
        </tr>
        <tr>
        	<td>기기담당자</td>
        	<td>손광석</td>
        </tr>
    </table>
</div>

<div class="ex_div">
    <span class="ex_bar"></span>
	<h3>원리 및 특징</h3>
	<p>
    	전계방사형 주사전자현미경은 집속된 전자탐침을 시료에 조사하여 시편으로부터 발생되는 2차 전자, 후방산란전자, 엑스선 등과 같은 다양한 신호를 검출하여 무기재료, 생체시료 등의 조직, 표면입체구조, 형태, 결함 같은 물리적인 상태를 수배에서 수십만배까지 영상으로 관찰을 할 수 있으며, 무기원소의 정량, 정성해석을 동시에 수행할 수 있다.

</p>
</div>

<div class="ex_div">
    <span class="ex_bar"></span>
	<h3>활용분야</h3>
	<p>1. 나노분말의 형상 및 종류 분석
<br>
2. 금속 및 세라믹의 미세조직 분석
<br>
3. 제품의 표면 상태 및 결함 분석
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4. 기계, 금속, 의학, 약학, 식품, 벌크, 제지분야 등 응용분야가 다양함.
</p>
</div>